Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
A. J. Nelson, S. Toleikis, H. Chapman, S. Bajt, J. Krzywinski, J. Chalupsky, L. Juha, J. Cihelka, V. Hajkova, L. Vysin, T. Burian, M. Kozlova, R.R. Fäustlin, B. Nagler, S.M. Vinko, T. Whitcher, T. Dzelzainis, O. Renner, K. Saksl, A. R. Khorsand, P. A. Heimann, R. Sobierajski, D. Klinger, M. Jurek, J. Pelka, B. Iwan, J. Andreasson, N. Timneanu, M. Fajardo, J.S. Wark, D. Riley, T. Tschentscher, J. Hajdu, and R. W. Lee
Opt. Express 17(20), 18271-18278 (2009) View:
HTML |
PDF