Abstract

We present the design and characterization of a novel electro-optic silicon photonic 2×2 nested Mach–Zehnder switch monolithically integrated with a CMOS driver and interface logic. The photonic device uses a variable optical attenuator in order to balance the power inside the Mach–Zehnder interferometer leading to ultralow crosstalk performance. We measured a crosstalk as low as 34.5  dB, while achieving 2  dB insertion loss and 4 ns transient response.

© 2016 Optical Society of America

Full Article  |  PDF Article
OSA Recommended Articles
Nanosecond-scale shift-and-dump Mach–Zehnder switch

Nicolas Dupuis, Jonathan E. Proesel, Herschel Ainspan, Christian W. Baks, Mounir Meghelli, and Benjamin G. Lee
Opt. Lett. 44(18) 4614-4616 (2019)

Nanosecond photonic switch architectures demonstrated in an all-digital monolithic platform

Nicolas Dupuis, Jonathan E. Proesel, Herschel Ainspan, Christian W. Baks, Mounir Meghelli, and Benjamin G. Lee
Opt. Lett. 44(15) 3610-3612 (2019)

A 2 × 2 nonblocking Mach–Zehnder-based silicon switch matrix

Weiwei Chen, Wanjun Wang, Weifeng Guo, Zhao Gong, Haiquan Zhou, Qiang Zhou, Xiaoqing Jiang, and Jianyi Yang
Opt. Express 20(11) 12593-12598 (2012)

References

  • View by:
  • |
  • |
  • |

  1. A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
    [Crossref]
  2. J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
    [Crossref]
  3. L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
    [Crossref]
  4. L. Qiao, W. Tang, and T. Chu, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th1C.2.
  5. L. Lu, S. Zhao, L. Zhou, D. Li, Z. Li, M. Wang, X. Li, and J. Chen, Opt. Express 24, 9295 (2016).
    [Crossref]
  6. L. Chen and Y.-K. Chen, Opt. Express 20, 18977 (2012).
    [Crossref]
  7. B. G. Lee, N. Dupuis, P. Pepeljugoski, L. Schares, R. Budd, J. R. Bickford, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 768 (2015).
    [Crossref]
  8. P. Pepeljugoski, N. Dupuis, and B. G. Lee, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th3F.6.
  9. N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
    [Crossref]
  10. J. Xing, Z. Li, Y. Yu, and J. Yu, Opt. Lett. 38, 4774 (2013).
    [Crossref]
  11. N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.
  12. A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
    [Crossref]
  13. B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
    [Crossref]
  14. R. Kasahara, K. Watanabe, M. Itoh, Y. Inoue, and A. Kaneko, in Proceedings of European Conference Optical Communication (2008), pp. 1–2.
  15. H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
    [Crossref]
  16. C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
    [Crossref]

2016 (1)

2015 (3)

B. G. Lee, N. Dupuis, P. Pepeljugoski, L. Schares, R. Budd, J. R. Bickford, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 768 (2015).
[Crossref]

N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
[Crossref]

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

2014 (2)

2013 (2)

H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
[Crossref]

J. Xing, Z. Li, Y. Yu, and J. Yu, Opt. Lett. 38, 4774 (2013).
[Crossref]

2012 (2)

L. Chen and Y.-K. Chen, Opt. Express 20, 18977 (2012).
[Crossref]

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

2005 (1)

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

2003 (1)

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Agarwal, A.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Agrawal, A.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Aksyuk, V.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Anderson, F. G.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Anderson, G.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Armistead, A.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Arney, S.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Assefa, S.

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

Baker, F.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Baks, C. W.

N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
[Crossref]

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Bannon, R.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Barwicz, T.

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Basavanhally, N.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Bickford, J. R.

Bolle, C.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Boving, S.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Budd, R.

B. G. Lee, N. Dupuis, P. Pepeljugoski, L. Schares, R. Budd, J. R. Bickford, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 768 (2015).
[Crossref]

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

Buhl, L.

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

Cappuzzo, M.

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

Chan, H.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Checconi, F.

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

Chen, E.

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

Chen, J.

Chen, L.

Chen, Y.-K.

Chilstedt, S.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Chrostowski, L.

H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
[Crossref]

Chu, T.

L. Qiao, W. Tang, and T. Chu, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th1C.2.

Cucci, B.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Dang, D.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Desai, G.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Ding, Y.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Doan, T.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Doany, F.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Doany, F. E.

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

Doerr, C.

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

Dupuis, N.

N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
[Crossref]

B. G. Lee, N. Dupuis, P. Pepeljugoski, L. Schares, R. Budd, J. R. Bickford, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 768 (2015).
[Crossref]

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

P. Pepeljugoski, N. Dupuis, and B. G. Lee, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th3F.6.

Ellis-Monaghan, J.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Engelmann, S.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Feilchenfeld, N. B.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Felderman, B.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Ferrario, J.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Frahm, R.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Fuentes, P.

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

Gasparyan, A.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Gates, J.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Germano, P.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Gill, D. M.

N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
[Crossref]

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Gomez, L.

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

Gordon, M.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Green, W. M. J.

N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
[Crossref]

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Griffin, A.

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

Haensch, W.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Haueis, M.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Hedges, C.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Hofrichter, J.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Hölzle, U.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Horst, F.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Inoue, Y.

R. Kasahara, K. Watanabe, M. Itoh, Y. Inoue, and A. Kaneko, in Proceedings of European Conference Optical Communication (2008), pp. 1–2.

Itoh, M.

R. Kasahara, K. Watanabe, M. Itoh, Y. Inoue, and A. Kaneko, in Proceedings of European Conference Optical Communication (2008), pp. 1–2.

Jaeger, N. A. F.

H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
[Crossref]

Jahnes, C. V.

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

Joseph, E.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Kanagala, A.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Kaneko, A.

R. Kasahara, K. Watanabe, M. Itoh, Y. Inoue, and A. Kaneko, in Proceedings of European Conference Optical Communication (2008), pp. 1–2.

Kasahara, R.

R. Kasahara, K. Watanabe, M. Itoh, Y. Inoue, and A. Kaneko, in Proceedings of European Conference Optical Communication (2008), pp. 1–2.

Kash, J. A.

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

Khater, M.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Khater, M. H.

Kiewra, E.

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Kim, J.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Kolodner, P.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Kraus, J.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Kuchta, D. M.

Kumar, B.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Lee, B. G.

B. G. Lee, N. Dupuis, P. Pepeljugoski, L. Schares, R. Budd, J. R. Bickford, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 768 (2015).
[Crossref]

N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
[Crossref]

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

P. Pepeljugoski, N. Dupuis, and B. G. Lee, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th3F.6.

Leidy, R.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Li, D.

Li, X.

Li, Z.

Libsch, F.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Lichtenwalner, C.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Lieuwen, D.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Lifton, V.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Lu, L.

Maling, J.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Martin, Y.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Mattes, O.

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

McLean, K.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Meghelli, M.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Minkenberg, C.

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

Neilson, D.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Nicewicz, M.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Nuzman, C.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Offrein, B.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Ong, J.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Orcutt, J. S.

N. Dupuis, B. G. Lee, A. V. Rylyakov, D. M. Kuchta, C. W. Baks, J. S. Orcutt, D. M. Gill, W. M. J. Green, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 3597 (2015).
[Crossref]

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Papazian, A.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Pardo, F.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Pepeljugoski, P.

B. G. Lee, N. Dupuis, P. Pepeljugoski, L. Schares, R. Budd, J. R. Bickford, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 768 (2015).
[Crossref]

P. Pepeljugoski, N. Dupuis, and B. G. Lee, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th3F.6.

Petrini, F.

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

Porth, B.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Proesel, J.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Provost, J.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Qiao, L.

L. Qiao, W. Tang, and T. Chu, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th1C.2.

Ramsey, D.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Reinholm, C.

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Rimolo-Donadio, R.

Rosenberg, J. C.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Ryf, R.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Rylyakov, A.

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

Rylyakov, A. V.

Sacher, W. D.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Schares, L.

B. G. Lee, N. Dupuis, P. Pepeljugoski, L. Schares, R. Budd, J. R. Bickford, and C. L. Schow, J. Lightwave Technol. 33, 768 (2015).
[Crossref]

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

Schow, C. L.

Shank, S.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Shank, S. M.

Shea, H.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Shi, W.

H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
[Crossref]

Simmons, J.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Simon, M.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Singh, A.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Stricker, A. D.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Stuart, S.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Tanda, E.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Tang, W.

L. Qiao, W. Tang, and T. Chu, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th1C.2.

Tian, X.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Vahdat, A.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Van Campenhout, J.

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

Vlasov, Y. A.

B. G. Lee, A. V. Rylyakov, W. M. J. Green, S. Assefa, C. W. Baks, R. Rimolo-Donadio, D. M. Kuchta, M. H. Khater, T. Barwicz, C. Reinholm, E. Kiewra, S. M. Shank, C. L. Schow, and Y. A. Vlasov, J. Lightwave Technol. 32, 743 (2014).
[Crossref]

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

Wanderer, J.

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

Wang, M.

Wang, Y.

H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
[Crossref]

Watanabe, K.

R. Kasahara, K. Watanabe, M. Itoh, Y. Inoue, and A. Kaneko, in Proceedings of European Conference Optical Communication (2008), pp. 1–2.

Weiss, A.

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

Whiting, C.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Willets, C.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Wong-Foy, A.

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

Xing, J.

Xiong, C.

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

Yang, M.

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

Yu, J.

Yu, Y.

Yun, H.

H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
[Crossref]

Zhao, S.

Zhou, L.

ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. (1)

A. Singh, P. Germano, A. Kanagala, J. Provost, J. Simmons, E. Tanda, J. Wanderer, U. Hölzle, S. Stuart, A. Vahdat, J. Ong, A. Agarwal, G. Anderson, A. Armistead, R. Bannon, S. Boving, G. Desai, and B. Felderman, ACM SIGCOMM Comput. Commun. Rev. 45, 183 (2015).
[Crossref]

IEEE J. Solid-State Circuits (1)

A. V. Rylyakov, C. L. Schow, B. G. Lee, W. M. J. Green, S. Assefa, F. E. Doany, M. Yang, J. Van Campenhout, C. V. Jahnes, J. A. Kash, and Y. A. Vlasov, IEEE J. Solid-State Circuits 47, 345 (2012).
[Crossref]

IEEE Micro (1)

L. Schares, B. G. Lee, F. Checconi, R. Budd, A. Rylyakov, N. Dupuis, F. Petrini, C. L. Schow, P. Fuentes, O. Mattes, and C. Minkenberg, IEEE Micro 34, 52 (2014).
[Crossref]

IEEE Photon. Technol. Lett. (2)

J. Kim, C. Nuzman, B. Kumar, D. Lieuwen, J. Kraus, A. Weiss, C. Lichtenwalner, A. Papazian, R. Frahm, N. Basavanhally, D. Ramsey, V. Aksyuk, F. Pardo, M. Simon, V. Lifton, H. Chan, M. Haueis, A. Gasparyan, H. Shea, S. Arney, C. Bolle, P. Kolodner, R. Ryf, D. Neilson, and J. Gates, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 1537 (2003).
[Crossref]

C. Doerr, M. Cappuzzo, E. Chen, A. Wong-Foy, L. Gomez, A. Griffin, and L. Buhl, IEEE Photon. Technol. Lett. 17, 1211 (2005).
[Crossref]

J. Lightwave Technol. (3)

Opt. Express (2)

Opt. Lett. (1)

Proc. SPIE (1)

H. Yun, W. Shi, Y. Wang, L. Chrostowski, and N. A. F. Jaeger, Proc. SPIE 8915, 89150V (2013).
[Crossref]

Other (4)

N. B. Feilchenfeld, F. G. Anderson, T. Barwicz, S. Chilstedt, Y. Ding, J. Ellis-Monaghan, D. M. Gill, C. Hedges, J. Hofrichter, F. Horst, M. Khater, E. Kiewra, R. Leidy, Y. Martin, K. McLean, M. Nicewicz, J. S. Orcutt, B. Porth, J. Proesel, C. Reinholm, J. C. Rosenberg, W. D. Sacher, A. D. Stricker, C. Whiting, C. Xiong, A. Agrawal, F. Baker, C. W. Baks, B. Cucci, D. Dang, T. Doan, F. Doany, S. Engelmann, M. Gordon, E. Joseph, J. Maling, S. Shank, X. Tian, C. Willets, J. Ferrario, M. Meghelli, F. Libsch, B. Offrein, W. M. J. Green, and W. Haensch, in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (2015), pp. 25.7.1–25.7.4.

R. Kasahara, K. Watanabe, M. Itoh, Y. Inoue, and A. Kaneko, in Proceedings of European Conference Optical Communication (2008), pp. 1–2.

P. Pepeljugoski, N. Dupuis, and B. G. Lee, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th3F.6.

L. Qiao, W. Tang, and T. Chu, in Proceedings of Optical Fiber Communication Conference (OFC) (OSA, 2016), paper Th1C.2.

Cited By

OSA participates in Crossref's Cited-By Linking service. Citing articles from OSA journals and other participating publishers are listed here.

Alert me when this article is cited.


Figures (6)

Fig. 1.
Fig. 1. Switch designs. (a) Schematic of a 2 × 2 MZS driven single-ended (se) with one EO phase shifter in one arm. (b) Schematic of a 2 × 2 NMZS having one push–pull-driven MZ-based EO phase shifter in one arm, a loss section in the other arm, and a power monitor port with a photodetector (PD).
Fig. 2.
Fig. 2. Insertion loss (top) and crosstalk (bottom) of a NMZS (solid blue lines) when balancing the power inside the interferometer using the loss section from the lower arm. Dashed green lines are the insertion loss and crosstalk for the MZS (se) in the on-state. The calculations assume optical couplers with no insertion losses and a perfect 3 dB splitting ratio. The input wavelength is 1310 nm, and the optical confinement factor in the phase shifters is 0.7.
Fig. 3.
Fig. 3. Design and fabrication of the monolithic switch in the CMOS9WG process. (a) NMZS schematic showing the interferometer structure, the EO phase shifters (PS1 and PS2), the VOA, and the TO phase trimmers (H1 and H2). (b) Schematic diagram of the CMOS logic and switch driver connected to the photonic switch.
Fig. 4.
Fig. 4. Die photographs. (a) NMZS showing details on the EO phase shifters, the VOA, and the heaters. (b) Test site showing an array of NMZS devices monolithically integrated with the CMOS electronics.
Fig. 5.
Fig. 5. Static characterizations of the NMZS. (a) Optical crosstalk for all configurations of the 2 × 2 switch as a function of the VOA bias at λ = 1319.05    nm . (b) Optical spectra measured with a tunable laser. The scan resolution is 0.05 nm in the main plot and 0.005 nm in the inset.
Fig. 6.
Fig. 6. Transient measurements of the NMZS showing the normalized optical response at both outputs of the switch. The input wavelength is 1318.8 nm.

Metrics