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偏光は、光の本質的で重要な特性の一つであり、テラヘルツ周波数帯においても近年様々な偏 光制御素子が開発されている。特にメタマテリアルやバイオテンプレートマイクロコイル等の新 奇なデバイスは、その構造スケールや配向性等の影響で、複屈折や旋光性、二色性、偏光解消等 の偏光特性が混在する可能性がある。これらの偏光特性を分離して詳細に評価する為には、デバ イスのミュラー行列を評価する事が有用である。我々はこれまで、構造性複屈折等を利用したテ ラヘルツ周波数帯の波長板を開発し、ストークスパラメータ計測に基づく偏光計測の有効性を実 証してきた[1]。ストークスパラメータを取り扱う事で、完全偏光のみでなく部分偏光や非偏光成 分も取り扱う事が可能となり、実用上も有用性が高い。現在、ストークスパラメータ計測に基づ いてミュラー行列を評価するシステムを開発し、様々な偏光素子の評価を進めている。
© 2016 Japan Society of Applied Physics, Optical Society of America
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